二极管阵列检测器（DAD）和紫外/可见检测器(UV/VIS)都是液相色谱（包括离子色谱）中常见的光学检测器。二极管阵列检测器可以实时扫描全光谱吸收图，因此可以判断色谱峰中是否有干扰存在，这是紫外/可见检测器所不具备的优势；特别是对于基体复杂、有潜在光谱干扰（例如有颜色的）的样品来说，二极管阵列检测器具备更强的抗干扰能力。然而，二极管阵列检测器需要用到较复杂的光谱处理软件，使用难度较大；另外由于光路设计的缘故使得噪声较大，检出限不尽如人意。PRIN-CEN充分了解痕量六价铬分析项目对仪器的要求，同时深入研究了二极管阵列检测器光路设计，并且按照痕量六价铬分析的要求对硬件和软件都进行了改良，从而推出了Trace Light Detector。 它将实时干扰扣除技术和高强度光源/长光程流通池技术相融合（长光程流通池是CEN/TC 52/WG 5/TG 2 N 162，EN 71-3 - Proposal for Chromium VI test method中推荐的配置）。实践证明Trace Light Detector具有出色的灵敏度和超强的抗干扰能力。